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JOFRA RTC 157C 干体炉
在温度量值传递与传感器校准领域,JOFRA RTC157C干体炉作为美国阿美特克(AMETEK)旗下旗舰产品,凭借-45至155℃的宽温域覆盖、0.04℃的系统
JOFRA RTC 157C 干体炉的详细资料
在温度量值传递与传感器校准领域,JOFRA RTC157C干体炉作为美国阿美特克(AMETEK)旗下旗舰产品,凭借-45至155℃的宽温域覆盖、±0.04℃的系统准确度(配外置参考探头)及±0.005℃的稳定度,成为计量检测机构与高端制造企业的核心设备。该仪器通过双区加热技术、DLC动态负载补偿系统及智能参考探头适配能力,突破传统干体炉温场不均的技术瓶颈,符合欧盟EURAMET/cg-13/v.01干体炉校准规范,其性能经权威测试验证为同类设备中的佼佼者,为热电阻、热电偶、温度变送器等全类型传感器提供可靠校准基准。
(一)关键性能指标
RTC157C的核心参数彰显参考级定位:温度范围覆盖-45~155℃极端温区,满足低温冷链、工业制程等多场景需求;显示分辨率达0.001℃,支持精细化温度设定;干井规格为φ30×160mm,配备Ф3.1mmDLC专用孔径与Ф4.2mm参考探头孔径,适配多数工业传感器尺寸。其径向温场一致性达±0.01℃,全温域稳定性控制在±0.005℃,这一指标已接近实验室液体槽水平,远超传统干体炉性能。
| 型号 | RTC157C |
| 生产厂商 | AMETEK(阿美特克)JOFRA |
| 温度范围 | -45℃~155℃ |
| 系统准确度 | ±0.04℃(外接标准铂电阻时) |
| 温度稳定性 | ±0.005℃ |
| 径向一致性 | ±0.01℃ |
| 显示分辨率 | 0.001℃(最高) |
| 干井规格 | φ30mm×160mm |
| 设备尺寸 | 362mm×171mm×363mm |
| 设备重量 | 10.5kg |
| 核心控温技术 | 双区加热控制+DLC动态负载补偿系统 |
| 温场监测 | 5个垂直监测点+3个周向监测点,支持热力图/曲线可视化 |
| 稳定时间 | 10分钟 |
| 升降温效率 | 23℃→155℃:8分钟;155℃→100℃:5分钟;23℃→-30℃:17分钟;-30℃→-45℃:25分钟 |
| 抗干扰能力 | 双层电磁屏蔽、EMC电源滤波、减震支架,支持MVI电网扰动免疫 |
| 适配配置 | |
| 参考探头 | 支持STS系列智能铂电阻,4线Redel接口,即插即用自动读取校准参数 |
| 套管套件 | 公制(3-13mm,4支)/英制(1/8"-1/2",3支)可选 |
| 数据接口 | USB接口,支持JOFRACAL校准软件 |
| 显示界面 | 5.7英寸全彩VGA屏,多语言导航(含中文) |
| 合规与应用 | |
| 合规标准 | 符合EURAMET/cg-13/v.01规范,支持ISO17025、GMP数据追溯要求 |
| 数据管理 | AES-256加密存储,支持PDF/TXT格式报告输出 |
| 典型应用 | 计量检测机构量值传递、半导体传感器校准、医药冷链设备校验、汽车电子测试 |
| 未公开参数 | 电源规格、校准通道数量(需联系厂商获取) |
(二)创新技术体系
双区加热技术
仪器采用上下独立可控的双区加热模块,底部区域保障加热块基础热容量,上部区域精准补偿探头插入导致的热量流失。这种设计无需对被检探头额外隔热,可直接校准充液式、机械式等热敏元件,解决了传统设备对探头类型的限制问题。通过5个垂直监测点(顶、上、中、下、底)与3个周向监测点的实时监控,温场分布可视化程度大幅提升。
DLC动态负载补偿系统
作为专利技术(申请中),DLC系统通过专用差分热电偶探头捕捉最小0.001℃的温场偏差,实时反馈至控制单元调整加热功率。在批量校准场景中,如同时接入8支不同规格Pt100传感器时,系统可在10秒内完成补偿,确保加热井内温差≤±0.01℃。该功能使温场均匀性不受传感器数量、尺寸影响,是RTC157C核心竞争力所在。
智能参考探头接口
配备4线Redel专用接口,支持STS系列标准铂电阻热插拔,内置芯片读取单元可3秒内识别探头校准数据(型号、修正参数等),实现即插即用。通过内置与外置探头数据融合计算,系统准确度从±0.008℃(内置)提升至±0.04℃,满足量值传递的溯源要求。
抗干扰与稳定控制
采用双层电磁屏蔽外壳、EMC电源滤波器及减震支架,可抵御工业环境中的电磁辐射、电压波动与机械振动,在焊接工位等复杂场景仍保持±0.005℃稳定度。MVI电压监控电路实时调节加热元件能量,避免供电不稳导致的温场波动。
RTC157C的校准测试基于“标准温场建立-量值传递-误差修正”三维原理,核心通过以下机制实现:
(一)温场控制原理:双区协同与动态补偿
仪器以铂电阻传感器为核心测温元件,通过PID算法调控双区加热模块:底部加热区采用高功率陶瓷加热器建立基础温场,上部区采用低功率薄膜加热器进行微调整。当被检探头插入加热井时,其热容量差异会引发局部温度下降,DLC差分探头立即捕捉这一变化并传输至MCU控制单元。控制单元根据偏差量按比例提升上部加热区功率,同时微调底部区输出,形成“监测-计算-补偿”闭环,确保套管内温场均匀性。例如在-45℃低温校准场景中,接入大尺寸热电偶后,DLC系统可将温场恢复时间缩短至传统设备的1/3。
(二)量值传递原理:参考探头与数据融合
校准过程以外部标准铂电阻(如STS200A系列)为量值基准,其校准数据(经国家计量院溯源)存储于探头内置EEPROM芯片。RTC157C读取数据后,将内置传感器测量值与外置探头值进行比对修正,生成“标准温度-被检信号”对应关系。以Pt100热电阻校准为例,仪器先通过外置探头确立25℃标准温点(实际值25.003℃),再测量被检探头的电阻输出(理论值109.734Ω),计算偏差后生成校准报告,整个过程符合ISO17025实验室认可要求。
(三)动态负载适应原理:多参数协同调控
当同时校准多支传感器时,仪器通过三重机制维持精度:1)DLC探头监测每支传感器周边温度,实现单点补偿;2)双区加热模块根据负载总量调整功率分配,避免整体温场漂移;3)智能算法预判不同材质(铜、不锈钢)探头的热响应特性,提前预置补偿参数。该原理使仪器在串联3台ASM扫描开关时,可同时校准24支探头且保持±0.02℃以内的系统误差。
(一)典型应用场景
医药冷链校准:在疫苗冷藏箱传感器检测中,RTC157C可模拟-20℃~8℃温区,通过自动步进功能(20步可编程)记录传感器在不同温度点的响应延迟,数据采集频率达10次/秒,满足GMP对冷链监控的要求。
半导体制造:针对晶圆蚀刻设备的热电偶校准,仪器通过DLC补偿实现8支传感器同时校准,温场一致性±0.01℃,确保蚀刻温度控制在±0.1℃精度范围内,提升芯片良率。
计量机构溯源:作为次级标准设备,其与国家基准温度计的比对误差≤0.03℃,可开展对企业级校准设备的量值传递,覆盖长三角地区300余家制造企业。
(二)数据合规与追溯体系
仪器内置8GBAES-256加密存储芯片,自动记录设备序列号、校准参数、温场数据等信息,附带毫秒级时间戳与操作人员标识。支持USB、以太网导出标准化报告,格式兼容LIMS系统,满足FDA21CFRPart11电子记录要求。通过定期校准(推荐周期12个月),可维持EURAMET规范下的性能指标,校准证书由阿美特克原厂或CNAS认可实验室出具。
RTC157C通过软硬件协同提升操作效率:JOFRACAL软件支持Windows系统远程控制,可预设校准流程模板(如热电偶K型、热电阻Pt100),无需专业编程能力;SYNC同步信号接口在温场稳定时触发数据记录仪,实现校准过程自动化;10组仪器设置存储功能,可快速切换不同行业的校准方案。其快速升降温能力(-45℃至25℃耗时≤15分钟)较传统设备提升40%,大幅缩短检测周期。
JOFRA RTC157C干体炉以双区加热与DLC补偿技术为核心,构建了“高精度、抗干扰、可追溯”的温度校准体系,其±0.04℃准确度与±0.005℃稳定度确立了中低温区干体炉的性能标杆。通过智能探头适配、动态负载补偿及合规化数据管理,该仪器不仅解决了多传感器批量校准的温场不均难题,更满足了计量检测、高端制造等领域对量值溯源的严苛需求。在工业4.0背景下,RTC157C正成为实现温度参数精准控制的关键基础设施,为质量管控与产业升级提供核心技术支撑。
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